MARQUES, Cleiton  M.; 						MEINHARDT, Cristina ; 						BUTZEN, Paulo  F..
 Impacto de falhas transientes em memórias SRAM em nanotecnologia. <em>In</em>: CONCURSO DE TRABALHOS DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA DA SBC (CTIC-SBC), 39.	, 2020, Cuiabá.
	 
	<strong>Anais</strong> [...].
 Porto Alegre: Sociedade Brasileira de Computação, 
	2020
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 p. 81-90.