Gurjão, E., 		Dias, K., & 		Amaris, M.
(2021).
Tolerância a falhas em multi-controladores SDN: eficiência de controladores RYU usando Mininet.
In <em>Anais da I Escola Regional de Alto Desempenho Norte 2 e I Escola Regional de Aprendizado de Máquina e Inteligência Artificial Norte 2</em>, (pp. 41-44). Porto Alegre: SBC.
doi:10.5753/erad-no2.2021.18679