Gurjão, E., 		Dias, K., & 		Amaris, M.
2021 nov 18.  Tolerância a falhas em multi-controladores SDN: eficiência de controladores RYU usando Mininet. Anais da Escola Regional de Alto Desempenho Norte 2 (ERAD-NO2) e Escola Regional de Aprendizado de Máquina e Inteligência Artificial Norte 2 (ERAMIA-NO2). [Online] :