Gurjão, Eonay, 		Dias, Klenilmar, E 		Amaris, Marcos.
" Tolerância a falhas em multi-controladores SDN: eficiência de controladores RYU usando Mininet" <em>Anais da Escola Regional de Alto Desempenho Norte 2 (ERAD-NO2) e Escola Regional de Aprendizado de Máquina e Inteligência Artificial Norte 2 (ERAMIA-NO2)</em> [Online], (18 novembro 2021)