FABRÍCIO FILHO, João; 						FELZMANN, Isaias B.; 						WANNER, Lucas F..
Sensibilidade a erros em aplicações na arquitetura RISC-V. <em>In</em>: ESCOLA REGIONAL DE ALTO DESEMPENHO DE SÃO PAULO (ERAD-SP), 11.	, 2020, Evento Online.
	 
	<strong>Anais</strong> [...].
 Porto Alegre: Sociedade Brasileira de Computação, 
	2020
.
 p. 58-61. 
		DOI: <a href="https://doi.org/10.5753/eradsp.2020.16886">https://doi.org/10.5753/eradsp.2020.16886</a>.