LANNES, Ana Clara; 						GOLDMAN, Alfredo.
 Tomografia de Resistividade Elétrica em Ambiente HPC: Revisão de um Estudo Recente. <em>In</em>: ESCOLA REGIONAL DE ALTO DESEMPENHO DE SÃO PAULO (ERAD-SP), 16.	, 2025, São José do Rio Preto/SP.
	 
	<strong>Anais</strong> [...].
 Porto Alegre: Sociedade Brasileira de Computação, 
	2025
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 p. 86-89. 
		DOI: <a href="https://doi.org/10.5753/eradsp.2025.9744">https://doi.org/10.5753/eradsp.2025.9744</a>.