Ana Lannes and Alfredo Goldman. 2025.
Tomografia de Resistividade Elétrica em Ambiente HPC: Revisão de um Estudo Recente. In Anais da XVI Escola Regional de Alto Desempenho de São Paulo, maio 28, 2025, São José do Rio Preto/SP, Brasil. SBC, Porto Alegre, Brasil, 86-89. DOI: https://doi.org/10.5753/eradsp.2025.9744.