Lannes, A., & 		Goldman, A.
(2025).
 Tomografia de Resistividade Elétrica em Ambiente HPC: Revisão de um Estudo Recente.
In <em>Anais da XVI Escola Regional de Alto Desempenho de São Paulo</em>, (pp. 86-89). Porto Alegre: SBC.
doi:10.5753/eradsp.2025.9744