A. Lannes and A. Goldman.
" Tomografia de Resistividade Elétrica em Ambiente HPC: Revisão de um Estudo Recente", in <em>Anais da XVI Escola Regional de Alto Desempenho de São Paulo</em>, São José do Rio Preto/SP, 2025, pp. 86-89, doi: <a href="https://doi.org/10.5753/eradsp.2025.9744">https://doi.org/10.5753/eradsp.2025.9744</a>.