NASCIMENTO, Lidia Perside Gomes; 						PRUDÊNCIO, Ricardo Bastos Cavalcante; 						MOTA, Alexandre Cabral; 						PAIVA FILHO, Audir de Araujo; 						CRUZ, Pedro Henrique Alves; 						OLIVEIRA, Daniel Cardoso Coelho Alves de; 						MOREIRA, Pedro Roncoli Sarmet.
 Machine Learning Techniques for Escaped Defect Analysis in Software Testing. <em>In</em>: SIMPÓSIO BRASILEIRO DE TESTES DE SOFTWARE SISTEMÁTICO E AUTOMATIZADO (SAST), 8.	, 2023, Campo Grande/MS.
	 
	<strong>Anais</strong> [...].
 Porto Alegre: Sociedade Brasileira de Computação, 
	2023
.
 p. 47–53.