Nascimento, Lidia, Ricardo Bastos Cavalcante Prudêncio, Alexandre Cabral Mota, Audir de Araujo Paiva Filho, Pedro Henrique Alves Cruz, Daniel Cardoso Coelho Alves de Oliveira, and Pedro Roncoli Sarmet Moreira. " Machine Learning Techniques for Escaped Defect Analysis in Software Testing." Anais do VIII Simpósio Brasileiro de Testes de Software Sistemático e Automatizado, Campo Grande/MS, 2023. SBC, 2023, pp.47–53.