BRAGA, Waisman F.; 						DELAMARO, Marcio E.; 						SOUZA, Simone R. S..
 Threshold Mutation Operators for Test Data Selection Applied to Machine Learning Testing. <em>In</em>: SIMPÓSIO BRASILEIRO DE TESTES DE SOFTWARE SISTEMÁTICO E AUTOMATIZADO (SAST), 11.	, 2026, São Paulo/SP.
	 
	<strong>Anais</strong> [...].
 Porto Alegre: Sociedade Brasileira de Computação, 
	2026
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 p. 39-48. 
		DOI: <a href="https://doi.org/10.5753/sast.2026.30848">https://doi.org/10.5753/sast.2026.30848</a>.