M. Cagnin, J. Maldonado, A. Chan, R. Penteado, and F. Germano.
"Reuso na Atividade de Teste para Reduzir Custo e Esforço de VV&amp;T no Desenvolvimento e na Reengenharia de Software", in <em>Anais do XVIII Simpósio Brasileiro de Engenharia de Software</em>, Brasília/DF, 2004, pp. 71-85, doi: <a href="https://doi.org/10.5753/sbes.2004.23834">https://doi.org/10.5753/sbes.2004.23834</a>.