MENDONÇA, Diogo Silveira; KALINOWSKI, Marcos.
Towards Practical Reuse of Custom Static Analysis Rules for Defect Localization. In: SIMPÓSIO BRASILEIRO DE QUALIDADE DE SOFTWARE (SBQS), 19. , 2020, São Luiz do Maranhão.
Anais [...].
Porto Alegre: Sociedade Brasileira de Computação,
2020
.
p. 234-243.