MENDONÇA, Diogo Silveira; 						KALINOWSKI, Marcos.
Towards Practical Reuse of Custom Static Analysis Rules for Defect Localization. <em>In</em>:  SIMPÓSIO BRASILEIRO DE QUALIDADE DE SOFTWARE (SBQS), 19.	, 2020, São Luiz do Maranhão.
	 
	<strong>Anais</strong> [...].
 Porto Alegre: Sociedade Brasileira de Computação, 
	2020
.
 p. 234-243.