MOREIRA, Gabriel de Souza Pereira; 						MELLADO, Roberto Pepato; 						CUNHA, Adilson Marques da; 						DIAS, Luiz Alberto Vieira.
 METACOM: Um Método para Análise de Correlação entre Métricas de Produto de Software e Propensão a Manutenção. <em>In</em>: SIMPÓSIO BRASILEIRO DE QUALIDADE DE SOFTWARE (SBQS), 10.	, 2011, Curitiba.
	 
	<strong>Anais</strong> [...].
 Porto Alegre: Sociedade Brasileira de Computação, 
	2011
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 p. 57-71. 
		DOI: <a href="https://doi.org/10.5753/sbqs.2011.15387">https://doi.org/10.5753/sbqs.2011.15387</a>.