V. Hayashi, W. Ruggiero, and F. Almeida.
"LabEAD AutoTest: Online Tests of Hardware Designs", in <em>Anais Estendidos do XXII Simpósio Brasileiro de Segurança da Informação e de Sistemas Computacionais</em>, Santa Maria, 2022, pp. 95-102, doi: <a href="https://doi.org/10.5753/sbseg_estendido.2022.227007">https://doi.org/10.5753/sbseg_estendido.2022.227007</a>.