MOIA, Vitor Hugo Galhardo; 						MENESES, Rodrigo Duarte de; 						SANZ, Igor Jochem.
 An Analysis of Real-World Vulnerabilities and Root Causes in the LLM Supply Chain. <em>In</em>: TRILHA DE INTERAÇÃO COM A INDÚSTRIA E DE INOVAÇÃO - SIMPÓSIO BRASILEIRO DE CIBERSEGURANÇA (SBSEG), 25.	, 2025, Foz do Iguaçu/PR.
	 
	<strong>Anais</strong> [...].
 Porto Alegre: Sociedade Brasileira de Computação, 
	2025
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 p. 388-396. 
		DOI: <a href="https://doi.org/10.5753/sbseg_estendido.2025.11811">https://doi.org/10.5753/sbseg_estendido.2025.11811</a>.