MITOSO, Gabriel; 						MELO, Tiago de.
 Detecção de Defeitos em Placas de Circuito Impresso com YOLOv10 Otimizado por Ghost Convolution. <em>In</em>: SEMINÁRIO INTEGRADO DE SOFTWARE E HARDWARE (SEMISH), 52.	, 2025, Maceió/AL.
	 
	<strong>Anais</strong> [...].
 Porto Alegre: Sociedade Brasileira de Computação, 
	2025
.
 p. 169-178. 
			ISSN 2595-6205. 
		DOI: <a href="https://doi.org/10.5753/semish.2025.8121">https://doi.org/10.5753/semish.2025.8121</a>.