Gabriel Mitoso and Tiago Melo. 2025.
 Detecção de Defeitos em Placas de Circuito Impresso com YOLOv10 Otimizado por Ghost Convolution. In <em>Anais do LII Seminário Integrado de Software e Hardware</em>, julho 20, 2025, Maceió/AL, Brasil. SBC, Porto Alegre, Brasil, 169-178. DOI: <a href="https://doi.org/10.5753/semish.2025.8121">https://doi.org/10.5753/semish.2025.8121</a>.