G. Mitoso and T. Melo.
" Detecção de Defeitos em Placas de Circuito Impresso com YOLOv10 Otimizado por Ghost Convolution", in <em>Anais do LII Seminário Integrado de Software e Hardware</em>, Maceió/AL, 2025, pp. 169-178, doi: <a href="https://doi.org/10.5753/semish.2025.8121">https://doi.org/10.5753/semish.2025.8121</a>.