LIMA, Dário Alef Barros; 						SILVA, Karen Letícia Santana da; 						SEVERIANO, Willian do Nascimento; 						FONTENELE, Antonio; 						VITAL, Wington L.; 						BRAGANÇA, Hendrio; 						CALIARI, Ítalo P..
 Rethinking Automated Visual Quality Control: A Systematic Benchmark of State-of-the-Art Anomaly Detection Methods for Assembled PCB Inspection. <em>In</em>: SEMINÁRIO INTEGRADO DE SOFTWARE E HARDWARE (SEMISH), 53.	, 2026, Gramado/RS.
	 
	<strong>Anais</strong> [...].
 Porto Alegre: Sociedade Brasileira de Computação, 
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			ISSN 2595-6205. 
		DOI: <a href="https://doi.org/10.5753/semish.2026.20750">https://doi.org/10.5753/semish.2026.20750</a>.