DIAS, Júlia Manfrin; 						MAIA, Marcelo de Almeida.
 On the relationship of repair actions and patterns on bug localization approaches: a comparative study. <em>In</em>: WORKSHOP DE VISUALIZAÇÃO, EVOLUÇÃO E MANUTENÇÃO DE SOFTWARE (VEM), 11.	, 2023, Campo Grande/MS.
	 
	<strong>Anais</strong> [...].
 Porto Alegre: Sociedade Brasileira de Computação, 
	2023
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 p. 21-25. 
		DOI: <a href="https://doi.org/10.5753/vem.2023.235562">https://doi.org/10.5753/vem.2023.235562</a>.