WAIANDT, Cláudio Alberto; 						SEIBEL JÚNIOR, Hilário.
 Defect detection in the textile industry using the YOLOv8 model. <em>In</em>: WORKSHOP DE SISTEMAS DE INFORMAÇÃO (WSIS), 15.	, 2024, Rio Paranaíba/MG.
	 
	<strong>Anais</strong> [...].
 Porto Alegre: Sociedade Brasileira de Computação, 
	2024
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 p. 74-79. 
		DOI: <a href="https://doi.org/10.5753/wsis.2024.33676">https://doi.org/10.5753/wsis.2024.33676</a>.