Cláudio Alberto Waiandt and Hilário Seibel Júnior. 2024.
 Defect detection in the textile industry using the YOLOv8 model. In <em>Anais do XV Workshop de Sistemas de Informação</em>, novembro 06, 2024, Rio Paranaíba/MG, Brasil. SBC, Porto Alegre, Brasil, 74-79. DOI: <a href="https://doi.org/10.5753/wsis.2024.33676">https://doi.org/10.5753/wsis.2024.33676</a>.