Waiandt, C., & 		Seibel Júnior, H.
(2024).
 Defect detection in the textile industry using the YOLOv8 model.
In <em>Anais do XV Workshop de Sistemas de Informação</em>, (pp. 74-79). Porto Alegre: SBC.
doi:10.5753/wsis.2024.33676