J. Schroeder, J. Cohen, and E. Duarte Jr..
"Uma Generalização dos Critérios de Conectividade #C(v) e MCC(v)", in <em>Anais do VII Workshop de Testes e Tolerância a Falhas</em>, Curitiba/PR, 2006, pp. 194-197, doi: <a href="https://doi.org/10.5753/wtf.2006.23344">https://doi.org/10.5753/wtf.2006.23344</a>.