Nakagawa, E., & 		Maldonado, J.
(1998).
Um Esquema de Injeção de Defeitos Baseado em Operadores de Mutação.
In <em>Anais do I Workshop de Testes e Tolerância a Falhas</em>, (pp. 31-36). Porto Alegre: SBC.
doi:10.5753/wtf.1998.23491