SEIDEL, Rodolfo; 						WAIANDT, Cláudio Alberto; 						SEIBEL JÚNIOR, Hilário.
 Defect detection in textile manufacturing: Improving findings using YOLOv5 versions. <em>In</em>: WORKSHOP DE VISÃO COMPUTACIONAL (WVC), 18.	, 2023, São Bernardo do Campo/SP.
	 
	<strong>Anais</strong> [...].
 Porto Alegre: Sociedade Brasileira de Computação, 
	2023
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 p. 66-71. 
		DOI: <a href="https://doi.org/10.5753/wvc.2023.27534">https://doi.org/10.5753/wvc.2023.27534</a>.