TY - JOUR AU - Butzen, Paulo AU - Meinhardt, Cristina AU - Marques, Cleiton PY - 2020/11/15 Y2 - 2024/03/28 TI - Impacto de falhas transientes em memórias SRAM em nanotecnologia JF - Revista Eletrônica de Iniciação Científica em Computação JA - REIC VL - 18 IS - 3 SE - Edição Especial: CTIC/CSBC DO - 10.5753/reic.2020.1751 UR - https://sol.sbc.org.br/journals/index.php/reic/article/view/1751 SP - AB - Esse trabalho avalia o impacto de falhas transientes induzidos por radiação em cinco topologias de células SRAM: 6T, 8T, 9T, 8T-SER e DICE. A análise explora as características temporais, de dissipação de potência e o limiar de LET durante a operação de armazenamento. As células de memória foram descritas utilizando o modelo preditivo na tecnologia de 16nm. Os resultados mostram o melhor desempenho da célula DICE como a opção mais robusta quanto aos efeitos de radiação. A célula 8T-SER obteve a melhor estabilidade considerando a tolerância ao ruído. Também são apresentados os ganhos na utilização da célula 8T em relação a 6T quando consideradas as métricas de atraso e consumo energético. ER -