BUTZEN, P.; MEINHARDT, C.; MARQUES, C. Impacto de falhas transientes em memórias SRAM em nanotecnologia. Revista Eletrônica de Iniciação Científica em Computação, [S. l.], v. 18, n. 3, 2020. DOI: 10.5753/reic.2020.1751. Disponível em: https://sol.sbc.org.br/journals/index.php/reic/article/view/1751. Acesso em: 25 abr. 2024.