Butzen, P., C. Meinhardt, e C. Marques. “Impacto De Falhas Transientes Em memórias SRAM Em Nanotecnologia”. Revista Eletrônica De Iniciação Científica Em Computação, vol. 18, nº 3, novembro de 2020, doi:10.5753/reic.2020.1751.