Cobertura dos Critérios Potenciais-Usos e a Confiabilidade do Software
Resumo
O objetivo principal deste artigo é apresentar os resultados de um experimento realizado para se investigar a relação entre a cobertura do código e a confiabilidade do software. Outras relações também foram investigadas: cobertura do código e dados de teste, cobertura do código e defeitos removidos, confiabilidade do software e defeitos removidos e finalmente confiabilidade do software e dados de teste. O experimento foi realizado para se investigar essas relações, aplicando-se a familia de critérios de teste estruturais Potenciais-Usos. Os dados de teste foram gerados aleatoriamente, condicionados ao perfil operacional do usuário. A cobertura dos elementos requeridos dos critérios foi calculada utilizando-se a ferramenta de teste POKETOOL e a confiabilidade do software foi estimada utilizando-se um algoritmo específico. Estes resultados mostram-nos que pode valer a pena investigar o uso de informação sobre cobertura de elementos requeridos nos modelos de crescimento de confiabilidade de software.
Referências
Z. Jelinski and P. Moranda, "Software. reliability research", in Statistical Computer Performance Evaluation. W. Freiberger, Ed. New York: Academic, pp. 465 - 485, 1972
D. Hamlet, "Are We testing for true reliability", IEEE Software, Vol. 9, No, 4, July 1992.
B. Littlewood, L. String, "Validation of ultrahigh dependability for software-based systems", Communication of the ACM, Vol. 36, No.1, Jan. 1993.
Gulyan S. Varadan, "Trends in Reliability and Test Strategies," IEEE Software, pp. 10, May 1995.
B. Litilewood, J. L. Verral, "A Bayesian reliability growth model for computer software", Applied Statistics, vol. 22, pp. 332-346, 1973.
J. Tian, P. Lu and J. Palma, "Testexecution-based reliability measurement and modeling for large commercial software, "IEEE Trans. Soft. Eng, vol 21, no. 5, pp 405-414, May 1995.
J. Ramsey and V. R. Basili, "Analyzing the Test Process Using Structural Coverage," Proc. ICSE'85, pp. 306-312, 1985.
M. L. Shooman, "Probabilistic models for software reliability prediction," in Statistical Computer Performance Evaluation, W. Freiberg, Ed. New York: Academic, pp.485-502, 1972
M. Chen, A. P. Mathur and V. J. Rego, "Effect of Testing Technique on Software Reliability Estimates Obtained Using A Time-Domain Model," IEEE Transactions on Reliability, vol. 44, no. 1, pp. 97-103 March 1995.
A. Hudson, "Program errors as a Birth and Death Process", Technical Report SP - 3011, Santa Monica, Cal.: Systems Development Corporation. 1967
Y. K. Malaiya, N. Li, J. Bieman, R. Karcick, B. Skibe, "The Relationship Between Test Coverage and Reliability, "Proceedings of the Fifth International Symposiun on Software Reliability Engineering. Monterey, CA, pp. 186-195, November 6-9, 1994
E. N. Adams, "Minimizing Cost Impact of Software Defects," IBM Research Division, Report RC 8228(35669), 1980
J. Tian, "Integrating Time Domain and Input Domain Analysis of Software Reliability Using Tree-Based Models," IEEE Trans. Soft. Eng, vol 21, no. 12, pp. 945-958, December 1995.
M. Chen, "Tools and Tchniques for Testing Based Software Reliability Estimation," Ph. D. Thesis, Purdue University, Aug. 1994.
A. N. Crespo, P. Matrella and A. Pasquini, "Sensitivity of reliability growth models to operational profile errors".
J.C. Maldonado, "Critérios Potenciais Usos: Uma Contribuição ao Teste Estrutural de Software." Tese de Doutorado, DCA/FEE/UNICAMP - Campinas, SP, Julho 1991.
R. C. Tausworthe, M. R. Lyy, "A Generalized Technique for Simulating Software Reliability." IEEE Software, pp. 77-88, March 1996.
F. D. Frate, P. Garg, A. P. Mathur and A. Pasquini, "Experiments to Investigate the Correlation Between Code Coverage and Software Reliability." SERC-TR-162-P, Software Engineering Research Center, Purdue University, West Lafayette, Indiana 47907, April, 1995.
A. Veevers and A. Marshall, "A Relationship Between Software Coverage Metrics and Reliability," Software Testing. Verification and Reliability, vol. 4, pp. 3-8, 1994.
M.R. Lyu, "Handbook of Reliability Engineering", McGraw-Hill, 1966.